22:19
演讲嘉宾：KLA Instruments - Frank Zhang 博士
32:35
Presented by Dr. Warren Oliver of KLA Instruments in English with Simplified Chinese subtitles. 演讲嘉宾：KLA Instruments - Dr. Warren Oliver(英文演讲，中文字幕）
54:53
演讲嘉宾：KLA Instruments 资深应用工程师 - Kent Wang，讨论Profilm 3D光学量测技术 (中文）
49:41
演讲嘉宾：KLA Instruments 资深应用工程师 - Marco Tsui（中文）
54:15
演讲嘉宾： KLA Instruments - Jianhui Liang 博士
56:55
超过8微米的厚膜会产生很多光干涉条纹。 分析这样复杂光谱的一个简洁方法就是用快速傅里叶变换。 FILMeasure 软件包括一系列高智能方法来简化光谱分析。这包括FFT 窗口功能，波长范围自动优化， 以及光学厚度滤波。我们会讲到光斑尺寸的影响以及设备的选配。 还会讲到多层薄膜的应用。
