KLA Instruments Webinars

32:35

Presented by  Dr. Warren Oliver of KLA Instruments in English with Simplified Chinese subtitles. 演讲嘉宾：KLA Instruments...

Posted Wednesday, September 15, 2021

54:53

演讲嘉宾：KLA Instruments 资深应用工程师 - Kent Wang，讨论Profilm 3D光学量测技术 (中文）

Posted Thursday, August 12, 2021

54:26

Posted Thursday, June 24, 2021

49:41

演讲嘉宾：KLA Instruments 资深应用工程师 - Marco Tsui（中文）

Posted Thursday, May 13, 2021

54:15

演讲嘉宾： KLA Instruments - Jianhui Liang 博士

Posted Thursday, April 15, 2021

52:44

Posted Thursday, March 25, 2021

47:09

Posted Wednesday, November 11, 2020

54:05

Posted Thursday, October 22, 2020

51:52

Posted Thursday, September 24, 2020

56:55

超过8微米的厚膜会产生很多光干涉条纹。分析这样复杂光谱的一个简洁方法就是用快速傅里叶变换。 FILMeasure 软件包括一系列高智能方法来简化光谱分析。这包括FFT 窗口功能，波长范围自动优化，以及光学厚度滤波。我们会讲到光斑尺...

Posted Thursday, August 13, 2020

57:33

Posted Thursday, July 16, 2020

44:02

表面粗糙度表征可以通过多种表面测量技术来实现。这个网络研讨会将介绍一些测量表面粗糙度的技术，以及量化粗糙度的典型方法。此外，我们将探索如何使用3D形貌还有表面形貌和先进的量化方法来加深您对表面形貌的理解。

Posted Thursday, July 9, 2020

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